系统升级维护中心，您也可以扫描下方二维码，获取最新书号查询入口！
扫一扫：立即查询书号
CMOS集成电路闩锁效应 - 的书号查询结果
- 书名：CMOS集成电路闩锁效应
- cip：2020016442
- isbn：9787111645870
- 作者：温德通, 编著
- 出版社：机械工业出版社
- 出版地：北京
- 出版时间：2020.3
- 出版价格：99.0
本书通过具体案例和大量彩色图片，对CMOS集成电路设计与制造中存在的闩锁效应（Latch—up）问题进行了详细介绍与分析。在介绍了CMOS集成电路寄生效应的基础上，先后对闩锁效应的原理、触发方式、测试方法、定性分析、改善措施和设计规则进行了详细讲解，随后给出了工程实例分析和寄生器件的ESD应用，为读者提供了一套理论与工程实践相结合的闩锁效应测试和改善方法。
[来源:书号查询官网]
免责声明： 本网转载稿件均不代表书号查询官网（www.shuhaochaxun.com）的观点，不保证内容的准确性、可靠性或完整性。如涉及版权、稿酬等问题，请速来电或来函联系。
