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互换性与技术测量基础 - 的书号查询结果

  • 书名:互换性与技术测量基础
  • cip:2020005159
  • isbn:9787568059763
  • 作者:王莉静, 郝龙, 吴金文, 主编
  • 出版社:华中科技大学出版社
  • 出版地:武汉
  • 出版时间:2019.12
  • 出版价格:38.0

本书分为9章,主要包括我国公差与配合方面的最新标准,阐述了技术测量的基本原理,主要包括绪论,测量技术基础,极限与配合,几何公差,表面粗糙度及其评定,光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计,常用典型件的互换性,圆柱齿轮公差与检测,尺寸链计算

[来源:书号查询官网]

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