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DEM插值算法适应性理论与方法 - 的书号查询结果
- 书名：DEM插值算法适应性理论与方法
- cip：2019219933
- isbn：9787121376177
- 作者：张锦明著
- 出版社：电子工业出版社
- 出版地：北京
- 出版时间：2020.1
- 出版价格：99
DEM精度研究是DEM研究体系的重要组成部分，其中原始数据精度、插值算法、地貌类型、采样数据分布特征和尺度是影响DEM精度的主要因素之一。DEM插值算法作为其中的直接因素，地貌类型、采样数据分布特征和尺度等因素通过插值算法影响DEM精度。因此，从影响DEM插值精度的不同因素出发，研究DEM插值算法的适应性问题，以降低DEM插值的不确定性、提高插值精度，具有十分重要的意义。本书围绕着DEM插值参数、地貌类型适应性、采样分布特征适应性、尺度适应性等问题展开了DEM插值算法适应性的研究和实践。本书可以作为地图学与地理信息工程（系统）、环境科学与工程、地理学、地质学、作战环境学等地球科学领域的研究生或本科生的辅助教材，也可以作为高等院校测绘科学与技术、遥感科学、地理信息科学等相关领域研究人员的科研参考书。
[来源:书号查询官网]
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